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冷热冲击交变模拟环境老化箱

简要描述:冷热冲击交变模拟环境老化箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、 航天、工业、电子芯片IC、半 导体陶瓷及高分子材料之物理性变化。

  • 产品型号:LQ-TS
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-13
  • 访  问  量:573
详情介绍

冷热冲击交变模拟环境老化箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、 航天、工业、电子芯片IC、半 导体陶瓷及高分子材料之物理性变化。

三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分,测试样品*静止于测试区。采用*之蓄热、蓄冷结构,强制冷热风路切换方式导入测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,执行冷热冲击条件时,可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。

冷热冲击交变模拟环境老化箱符合标准:

GB/T2423.1-1989低温试验方法; GB/T2423.2-1989高温试验方法;

GB/T2423.22-1989温度变化试验; GJB150.5-86温度冲击试验;

GJB360.7-87温度冲击试验; GJB367.2-87 405温度冲击试验;

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

GB/T 2423.22-2002温度变化;

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;

 

 

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