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冷热冲击测试的设备 冷热冲击试验箱

简要描述:冷热冲击测试的设备适合电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、、航天等制品检测质量之用。有瞬间从高温冲到低温或者从低温瞬间冲击到高温的试验功能。适用于所有工业材料、工业产品的成品或者半成品。

  • 产品型号:LQ-TS-80
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-13
  • 访  问  量:591
详情介绍

冷热冲击测试的设备适合电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、、航天等制品检测质量之用。有瞬间从高温冲到低温或者从低温瞬间冲击到高温的试验功能。适用于所有工业材料、工业产品的成品或者半成品。

的技术参数:

冷热冲击测试的设备的性能参数参考如下:

一、低温冲击可选择温度范围:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(厂家还免费配高温至150度)。

二、温度偏差:±2℃。

三、温度波动度:±0.5℃。

四、温度恢复时间:≤5min。

五、温度恢复条件:高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

六、温度冲击转移方式:采用气动驱动。   

七、高温室储温的升温时间:30min (+25℃~+200℃)。

八、低温室储温的降温时间:65min (+25℃~-75℃)。

九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音:(dB)≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音)

十、型号             内箱尺寸(mm)             外箱尺寸(mm)           功率(kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

11f2a3a1760b1cfda4fe3bde801d44b.jpg

本设备满足

GBT   2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A低温


GBT   2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温


GBT   2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db: 湿热循环.


GBT   2423-3-2006

电工电子产品环境试验 恒定湿热


GBT   10592-1989

高低温试验箱 技术条件


SJT   31391—1994

恒温试验箱完好要求和检查评定方法


 

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