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温度冲击老化实验测试箱 冷热冲击试验箱

简要描述:温度冲击老化实验测试箱提供温度瞬间变化环境,供用户对整机(或部件)、电器、仪器、材料等作温度试验,以便考核试品的适应性或对试品的行为作出评价。暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程不可少的重要试验手段。

  • 产品型号:LQ-TS-1000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-13
  • 访  问  量:472
详情介绍

温度冲击老化实验测试箱提供温度瞬间变化环境,供用户对整机(或部件)、电器、仪器、材料等作温度试验,以便考核试品的适应性或对试品的行为作出评价。暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程不可少的重要试验手段。

温度冲击老化实验测试箱分为高温室、低温室、测试室三部分,采之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物*静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

可选择的容积有如下:

50L内箱尺寸为360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。

80L内箱尺寸为500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。

150L内箱尺寸为600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。

250L内箱尺寸为700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。

512L内箱尺寸为800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。

1000L内箱尺寸为1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准。

满足以下标准:

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A:低温。

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B: 高温。

GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件。

GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件。

GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件。

GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。

GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备。

GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则。

GB/T2423.22-1989温度变化试验。

GB/T 2423.22-2002温度变化。

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则。

GJB150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分高温试验。

GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验。

GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验。

GJB367.2-1987 通信设备通用技术条件 环境试验方法。

GJB360.7-87温度冲击试验。

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验。

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化。

EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。


 

 

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